Eigenfrequenzbestimmung von Wafern Müller Tobias Schmidt Thorsten Rank Sebastian Schneider Germar Wafer werden in modernen Halbleiterfabriken mit automatisierten, schienengebundenen Deckenfahrzeugen (OHT) durch die Fertigungslinien transportiert. Die dabei entstehenden Schwingungen, z. B. durch Schienenstöße oder durch Hub- und Senkvorgänge, werden auf den Transportbehälter und schließlich auf die Wafer übertragen. Stimmt die Betriebsfrequenz aus dem Transport mit der Eigenschwingung des jeweiligen Wafers überein, entsteht eine Resonanz, die zum Bruch der Wafer und hohen wirtschaftlichen Schaden führen können. Um dies zu vermeiden, müssen die Eigenfrequenzen der beteiligten Systemelemente untersucht werden. In einem Schwingprüfstand wurden die Eigenfrequenzen von Wafern separat und in Verbindung mit ihrer Transportbox, dem Front Opening Unified Pod (FOUP) bestimmt. Dabei wurde der FOUP wie im Betrieb hängend an der dafür vorgesehenen Halterung befestigt und mit einem Schwingerreger erregt. Mithilfe einer Modalanalyse im FE-Modell konnten die Eigenfrequenzen und Frequenzverläufe ermittelt sowie die Schwingformen an den jeweiligen Messpositionen reproduziert werden. Weiterhin wurden simulativ wie auch experimentell schwingungsmindernde Maßnahmen durchgeführt. Die Ergebnisse sehen eine Versteifung der Halterung des FOUP als wirksamste Lösung. Eigenfrequenzen FOUP Schwingungstests shaker wafer 620 periodical academic journal Logistics Journal : Proceedings 2017 10 2017 2192-9084 urn:nbn:de:0009-14-45722 10.2195/lj_Proc_mueller_de_201710_01 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:0009-14-45722 müller2017